다채널 OLED I-V-L 테스트 최적화 시스템
OLED 소자 구동 간 일정 간격으로 I-V-L 측정을 병행하며 OLED 신뢰성 평가를 위한 다양한 분석 파라미터를 제공합니다. 자체 개발된 다채널 I-V-L 장치로 다수의 OLED TEG 시료 구동 및 Photodiode를 통한 광 측정이 가능합니다. 독립 구동하는 다채널 I-V-L 장치로 전압을 스캔하며 전류 및 PD 전류를 측정, I-V-L(PD 전류)를 특성 곡선으로 측정합니다. PD 전류를 이용한 소자 수명 변화에 따른 상대적 I-V-L 변화 데이터 분석과 레시피 조합을 통한 채널별 시퀀스 구성 및 동작 기능을 지원합니다.
상대 수명 테스트
에이징 테스트
다중 전류 및 포토 전류 범위
다중 레시피의 순차적인 구동 방식
온도챔버를 사용한 가속 수명 실험
시스템 구성도
컴포넌트
멀티채널 IVL 테스터
지그 & 지그 프레임
ThermoStation/챔버/UPS
소프트웨어
제품사양
Product Name | M6600 OLED I-V-L Reliability Test System | |
Function | Lifetime Test, Aging Test, IVL Test | |
Capacity | 32ch / Unit | |
Output Mode | CV, CC, CL, PV, PC, PCV | |
Voltage | Range | ±20V |
Accuracy | ±0.05% + 10mV (F.S.R.) | |
Current | Range | [Range 1] ±1mA / [Range 2] ±10mA (Auto 2-Range Shunt Type) |
Accuracy | [Range 1] ±0.05% + 1uA (F.S.R.) / [Range 2] ±0.05% + 10uA (F.S.R.) | |
Photocurrent | Range | [Range 1] 0uA~10uA / [Range 2] 0uA~100uA / [Range 3] 0uA~1mA (Auto) |
Accuracy | [Range 1] ±0.05% + 5nA (F.S.R.) / [Range 2] ±0.05% + 10nA (F.S.R.) / [Range 3] ±0.05% + 50nA (F.S.R.) | |
Pulse | Frequency Range | 10 ~ 256Hz / 1Hz Step |
Duty | 1 ~ 99% / 1% Step | |
Measurement Item | Time, Voltage, Current, Photo-Current, Luminance, CIE | |
Data Backup | Automatic Data Backup in HW Memory in case of SW Disconnection | |
Interface | LAN |
OLED & Display | Solar Cell & Photovoltaics | Battery & Electrochemical System | Flexible Electronics & Organic Semiconductor | LED & Optical System
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