관련제품
다채널 OLED 구동 및 수명 측정 최적화 시스템
M6000 PLUS OLED 수명 측정 시스템은 OLED 물질의 전기적 테스트 및 고온 및 저온의 실험 조건 변경을 가하여 시간에 따른 물질의 화학적 혹은 물리적 변화나 영향을 알 수 있도록 합니다. 이러한 평가는 OLED의 단위 소자, 모듈 그리고 패널 등에 적용이 가능합니다. 수명 실험은 OLED 재료 성능의 개선이나 품질에 대한 대표적인 지표로 활용됩니다.
상대 수명 테스트
에이징 테스트
다중 전류 및 포토 전류 범위
다중 레시피의 순차적인 구동 방식
온도챔버를 사용한 가속 수명 실험
시스템 구성도
컴포넌트
OLED 수명측정 테스터
지그 & 지그 프레임
ThermoStation/챔버/UPS
소프트웨어
제품사양
| Product Name | M6000 PLUS OLED Lifetime Test System | |
| Function | Lifetime Test, Aging Test, IV Scan during Lifetime Test | |
| Capacity | 32ch / Unit | |
| Output Mode | CV, CC, PV, PC, PCV | |
| Voltage | Range | ±20V |
| Accuracy | ±0.05% + 10mV (F.S.R.) | |
| Current | Range | [Range 1] ±1mA / [Range 2] ±10mA (Auto 2-Range Shunt Type) |
| Accuracy | [Range 1] ±0.05% + 1uA (F.S.R.) / [Range 2] ±0.05% + 10uA (F.S.R.) | |
| Photocurrent | Range | [Range 1] 0uA~10uA / [Range 2] 0uA~100uA / [Range 3] 0uA~1mA (Auto) |
| Accuracy | [Range 1] ±0.05% + 5nA (F.S.R.) / [Range 2] ±0.05% + 10nA (F.S.R.) / [Range 3] ±0.05% + 50nA (F.S.R.) | |
| Pulse | Frequency Range | 10 ~ 256Hz / 1Hz Step |
| Duty | 1 ~ 99% / 1% Step | |
| Measurement Item | Time, Voltage, Current, Photo-Current, Luminance, CIE | |
| Data Backup | Automatic Data Backup in HW Memory in case of SW Disconnection | |
| Interface | LAN | |
OLED & Display | Solar Cell & Photovoltaics | Battery & Electrochemical System | Flexible Electronics & Organic Semiconductor | LED & Optical System
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